模塊測(cè)試中還有一個(gè)重要的測(cè)試—時(shí)序測(cè)試。參考MSA的標(biāo)準(zhǔn)，基本的時(shí)序包括以下幾個(gè)Ton/Toff,LOS_A ,LOS_D ,fault等。如下：

   今天說(shuō)一下LOS timing的測(cè)試。

     LOS timing 是測(cè)量LOS跳變的時(shí)間，LOS_Assert Time是有光到無(wú)光時(shí)到LOS跳變?yōu)楦叩臅r(shí)間，LOS_Deassert Time為無(wú)光到有光的時(shí)候，LOS從高到低的跳變時(shí)間。測(cè)試架構(gòu)如下。

注意事項(xiàng)：

1. LOS 分為AC LOS 和DC LOS ，測(cè)試AC LOS的時(shí)候光源需要加調(diào)制信號(hào)

2.測(cè)試需要考慮O/E convert 的轉(zhuǎn)換時(shí)間，一般會(huì)比較快

3.光源可外接或者自環(huán)。

4.測(cè)試timing 的時(shí)候通常在靈敏度附近測(cè)試，但是也需要看飽和時(shí)候的值。很多TIA在飽和時(shí)候會(huì)有一個(gè)glitch的信號(hào)，會(huì)造成飽和時(shí)候的LOS timing超規(guī)格。可以利用主芯片的一些補(bǔ)償功能或者其他的方式加以規(guī)避。

5.測(cè)試LOS timing超規(guī)格的時(shí)候要注意看LOS的外圍是否有電容，AC LOS看LOS 外是否有電容，DC LOS的話需要看源信號(hào)RSSI的外圍電路，如果濾波電容過(guò)大會(huì)影響LOS的 timing

6.LOS 通常是LA自帶的功能，如果LA不能實(shí)現(xiàn)，但有的時(shí)候LA只能實(shí)現(xiàn)AC，無(wú)法實(shí)現(xiàn)DC，這樣RSSI需要接入到MCU進(jìn)行處理，最好通過(guò)比較器來(lái)實(shí)現(xiàn)，以保證LOS的時(shí)序

7.如果沒(méi)有O/E convert，通常的做法就是通過(guò)Tx disable 來(lái)控制光源，測(cè)試Tx disable電平的轉(zhuǎn)換到LOS的電平轉(zhuǎn)換的時(shí)間，這個(gè)時(shí)間就是Ton/off+LOS on/off的時(shí)間，

8. OLT的LOS時(shí)序更為復(fù)雜，與Reset信號(hào)也相關(guān)，后續(xù)專(zhuān)門(mén)做解釋。

    下圖為一個(gè)常規(guī)的LOS_on，LOS_off的測(cè)試圖形，供參考。[敏感詞]為光信號(hào)，青色為LOS信號(hào)